薄膜電阻測試儀配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程，無(wú)需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動(dòng)生成報表；
 

　　本儀器具有精度高、顯示迅速、穩定性好、讀數方便, 適用于防靜電產(chǎn)品 如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外，還能直接測量電流如電子器件暗電流等。
 

　　薄膜電阻測試儀的特點(diǎn)是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時(shí)，另一塊數字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時(shí)掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。主機配有恒流源開(kāi)關(guān)，在測量某些薄層材料時(shí)，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護箔膜。
 

　　主機配置了“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本套儀器使用專(zhuān)用軟件進(jìn)行數據采集,可實(shí)現自動(dòng)換向測量、存儲,求平均值，zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內容。
 

　　薄膜電阻測試儀探頭選配建議：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類(lèi)半導體、金屬、導電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。
 

　　換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測量。配專(zhuān)用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。